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  • Huace-300華測(cè)固體絕緣材料表面電阻率測(cè)試儀
    Huace-300華測(cè)固體絕緣材料表面電阻率測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2025-09-10

    型號(hào):Huace-300

    瀏覽量:4621

    華測(cè)固體絕緣材料表面電阻率測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》和ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》等標(biāo)準(zhǔn)的要求。本儀器既可測(cè)量高電阻,又可測(cè)微電流。測(cè)量精度達(dá)到3‰。同時(shí)儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點(diǎn)。
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  • HCDH-Ⅲ耐電弧試驗(yàn)儀 符合國(guó)標(biāo)GB/T1411-2002
    HCDH-Ⅲ耐電弧試驗(yàn)儀 符合國(guó)標(biāo)GB/T1411-2002

    更新時(shí)間:2025-09-10

    型號(hào):HCDH-Ⅲ

    瀏覽量:3634

    耐電弧試驗(yàn)儀 符合國(guó)標(biāo)GB/T1411-2002,《干固體絕緣材料 耐高電壓、小電流電弧放電的試驗(yàn) 》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗(yàn)方法。適應(yīng)于電機(jī)、電器及家電等行業(yè)的電工用塑料、樹(shù)脂膠、絕緣漆、以及層壓板、覆銅箔板等絕緣材料等介質(zhì)的耐電弧測(cè)試
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  • HCRD-300電弱點(diǎn)測(cè)試儀新能源汽車(chē)隔膜檢測(cè)
    HCRD-300電弱點(diǎn)測(cè)試儀新能源汽車(chē)隔膜檢測(cè)

    更新時(shí)間:2025-09-18

    型號(hào):HCRD-300

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    電弱點(diǎn)測(cè)試儀新能源汽車(chē)隔膜檢測(cè),HCRD-300型電弱點(diǎn)測(cè)試儀采用計(jì)算機(jī)控制,進(jìn)而達(dá)到人機(jī)對(duì)話的方式,主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。電氣用塑料薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀,無(wú)須將膜卷分切成小卷,根據(jù)薄膜的使用寬度直接進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試。
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  • HCLD-2絕緣材料漏電起痕測(cè)試儀
    HCLD-2絕緣材料漏電起痕測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2026-06-12

    型號(hào):HCLD-2

    瀏覽量:96

    華測(cè)儀器HCLD-2絕緣材料漏電起痕測(cè)試儀電痕化是指固體絕緣材料在電應(yīng)力和電解雜質(zhì)的聯(lián)合作用下,在表面(或內(nèi)部)產(chǎn)生導(dǎo)電通道。
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  • HCLD-2固體絕緣材料低壓耐電痕測(cè)試裝置
    HCLD-2固體絕緣材料低壓耐電痕測(cè)試裝置

    更新時(shí)間:2026-06-12

    型號(hào):HCLD-2

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    華測(cè)儀器HCLD-2固體絕緣材料低壓耐電痕測(cè)試裝置是根據(jù)耐漏電起痕試驗(yàn)(電痕化指數(shù)試驗(yàn))的標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定的模擬仿真試驗(yàn)項(xiàng)目。
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  • Huace-300全自動(dòng)表面體積絕緣電阻檢測(cè)儀
    Huace-300全自動(dòng)表面體積絕緣電阻檢測(cè)儀

    更新時(shí)間:2026-06-10

    型號(hào):Huace-300

    瀏覽量:84

    華測(cè)儀器Huace-300全自動(dòng)表面體積絕緣電阻檢測(cè)儀采用低溫漂系數(shù)極低的電阻,既可測(cè)量高電阻,又可測(cè)微電流。
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  • Huace-300絕緣材料表面體積電阻測(cè)定儀
    Huace-300絕緣材料表面體積電阻測(cè)定儀

    更新時(shí)間:2026-06-10

    型號(hào):Huace-300

    瀏覽量:90

    華測(cè)儀器Huace-300絕緣材料表面體積電阻測(cè)定儀采用低溫漂系數(shù)極低的電阻,既可測(cè)量高電阻,又可測(cè)微電流。
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  • HCLD-2CTI 絕緣材料低壓漏電起痕測(cè)試系統(tǒng)
    HCLD-2CTI 絕緣材料低壓漏電起痕測(cè)試系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2026-05-09

    型號(hào):HCLD-2

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    華測(cè)儀器HCLD-2 CTI 絕緣材料低壓漏電起痕測(cè)試系統(tǒng)用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能,測(cè)定其相比電痕化指數(shù) (CTI) 和耐電痕化指數(shù)(PTI) 。
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