華測儀器Huace TEC-150帕爾貼冷熱臺

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Huace TEC-150帕爾貼冷熱臺由華測儀器生產(chǎn)，利用半導(dǎo)體熱電轉(zhuǎn)換特性為樣品提供可控高低溫環(huán)境，支持與顯微鏡、光譜儀等光學(xué)設(shè)備聯(lián)用，實現(xiàn)變溫過程中原位光學(xué)觀測與性能測試。無需制冷劑、無機械運動部件，解決傳統(tǒng)制冷設(shè)備振動、需耗材、控溫響應(yīng)慢等問題，適用于對環(huán)境穩(wěn)定性要求高的測試場景。

產(chǎn)品優(yōu)勢

控溫性能優(yōu)異

溫度范圍-40℃~150℃，溫度穩(wěn)定性 ± 0.1℃，支持 0~30℃/min 可調(diào)升降溫速率，可程序段控溫，電流調(diào)節(jié)響應(yīng)速度達(dá)毫秒級。

光學(xué)兼容性強

開放式光路無遮擋，窗口材質(zhì)可按觀測波段定制更換，適配多種光學(xué)測試場景。

樣品臺尺寸、腔室類型等可定制，可與顯微鏡、光譜儀等光學(xué)設(shè)備聯(lián)用，體積小巧無機械振動，適合受限環(huán)境。

操作便捷環(huán)保

配備智能化溫控軟件，支持遠(yuǎn)程操控與數(shù)據(jù)導(dǎo)出，無需液氮、氟利昂等制冷劑。

可拓展性強

載樣臺可自由組合成多工位溫控模組，滿足高通量測試需求。

應(yīng)用領(lǐng)域

材料科學(xué)

相變、熱膨脹、熱電性能研究

半導(dǎo)體與電子器件

溫控特性測試

光學(xué)與光譜學(xué)

拉曼、熒光、紅外光譜原位變溫測試