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CGO-4半導體封裝材料4英寸真空探針臺帶顯微鏡

更新時間：2025-08-18

型號：CGO-4

瀏覽量：1696

半導體封裝材料4英寸真空探針臺帶顯微鏡是一種能夠在高真空環境下進行精確測量和實驗的設備。其基本原理是利用真空環境下的物理現象和特性，對樣品進行各種實驗和測量。在高真空環境中，氣體分子很少，這有助于減少空氣阻力、空氣振動和其他干擾因素，從而獲得較為準確和可靠的實驗數據。
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CGO-2半導體材料真空探針臺電學性能測試系統

更新時間：2025-08-18

型號：CGO-2

瀏覽量：1959

半導體材料真空探針臺電學性能測試系統是一種能夠在高真空環境下進行精確測量和實驗的設備。其基本原理是利用真空環境下的物理現象和特性，對樣品進行各種實驗和測量。在高真空環境中，氣體分子很少，這有助于減少空氣阻力、空氣振動和其他干擾因素，從而獲得較為準確和可靠的實驗數據。
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功能材料電測綜合測試系統/鐵電壓電熱釋電

更新時間：2025-09-10

型號：

瀏覽量：1717

功能材料電測綜合測試系統/鐵電壓電熱釋電，是用于鐵電、熱釋電、壓電材料和電卡材料各種重要性能參數測試的最基本儀器設備，可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電/電卡薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的研究。它不僅可作為近代物理實驗中的固體物理實驗設備，還可作為工業化生產鐵電存儲器的鐵電性能檢測設備。
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電壓擊穿試驗儀適用于電線套管樹脂膠

更新時間：2026-06-24

型號：

瀏覽量：1777

電壓擊穿試驗儀適用于電線套管樹脂膠，化工絕緣材料專用采用計算機控制，可對試驗過程中的各種數據進行快速、準確的采集、處理，并可存取、顯示、打印。
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絕緣電阻劣化(離子遷移）評估系統

更新時間：2025-09-15

型號：

瀏覽量：1745

離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降。絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統是一種信賴性試驗設備。
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HCAM200V-40KV華測測試介電交直流高壓功率放大器全系列

更新時間：2025-09-10

型號：HCAM200V-40KV

瀏覽量：2028

華測測試介電交直流高壓功率放大器全系列是一種可放大交直流信號，在給定失真率條件下，能產生最大功率輸出以驅動某一負載的實驗室儀器。功率放大器的主要技術參數包括帶寬、電壓、功率、通道、壓擺率、阻抗、增益等。為具體應用選擇合適的功率放大器時，應考慮電壓、功率、增益、帶寬和波形等特性。
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評估絕緣材料劣化程度離子遷移評估系統

更新時間：2025-09-17

型號：

瀏覽量：1977

評估絕緣材料劣化程度離子遷移評估系統，離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降。絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統是一種信賴性試驗設備。
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計算機控制電壓擊穿儀，精確測試絕緣強度

更新時間：2025-08-11

型號：

瀏覽量：2046

計算機控制電壓擊穿儀，精確測試絕緣強度采用計算機控制，可對試驗過程中的各種數據進行快速、準確的采集、處理，并可存取、顯示、打印。
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