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HCMP多通道介電絕緣電阻測試模塊

更新時間：2026-03-24

型號：HCMP

瀏覽量：339

華測儀器HCMP多通道介電絕緣電阻測試模塊此測試模塊精度高、穩定性強、實現智能化與自動化、可靠耐用、模塊化設計，可用于多通道介電與電阻測量，使其在材料科學、新能源、半導體領域中被普遍應用。
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HuacePEA 空間電荷測試系統

更新時間：2026-03-23

型號：Huace

瀏覽量：410

華測儀器PEA 空間電荷測試系統電聲脈沖法是一種無損的空間電荷測量技術，它用于描述聚合物絕緣材料內部的空間電荷分布、積累及其整體行為。
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HC-RD-1100熱電材料Seebeck 系數電阻測試儀

更新時間：2026-03-20

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：436

華測儀器HC-RD-1100熱電材料Seebeck 系數電阻測試儀測量半導體、方鈷礦等熱電材料的塞貝克系數與電導率，計算ZT值(熱電優值)；評估材料在高溫或特定環境(真空/還原氣氛)下的熱電轉換效率。
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Huace絕緣材料離子遷移評估系統

更新時間：2026-03-20

型號：Huace

瀏覽量：421

華測儀器絕緣材料離子遷移評估系統，離子遷移是電子設備失效機制之一，指電路板上的銅、銀、錫等金屬離子在高溫高濕及電場作用下發生離子化，通過絕緣層向另一極遷移，而導致絕緣性能下降、短路等故障。
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HCDJC-1F變頻耐壓擊穿試驗系統

更新時間：2026-04-07

型號：HCDJC-1F

瀏覽量：431

華測儀器HCDJC-1F變頻耐壓擊穿試驗系統可測試絕緣材料在變頻電壓工況下的擊穿強度、耐電壓時間等指標。
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Huace多通道離子遷移評估系統

更新時間：2026-03-19

型號：Huace

瀏覽量：397

華測儀器多通道離子遷移評估系統離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降。
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HCDJC-1F5kV變頻電壓擊穿試驗儀

更新時間：2026-03-19

型號：HCDJC-1F

瀏覽量：438

華測儀器HCDJC-1F 5kV變頻電壓擊穿試驗儀是絕緣材料電氣性能檢測用升級設備，適配電力、電子、材料研發等行業，可測試絕緣材料在變頻電壓工況下的擊穿強度、耐電壓時間等指標。
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HC-RD-1100Seebeck 系數電阻測試儀

更新時間：2026-03-17

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：415

華測儀器HC-RD-1100Seebeck 系數電阻測試儀可自動完成信號激勵、數據采集、實時處理及結果輸出全流程，并通過可視化界面直觀呈現測試成果，提升了操作便捷性與測試效率。
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