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絕緣材料測(cè)試儀器

表面電位衰減測(cè)試系統(tǒng)/測(cè)試儀絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái) 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng) 電熱老化罐真空電熱老化測(cè)試系統(tǒng) 高阻計(jì) 擊穿電壓測(cè)定儀表面體積電阻率測(cè)試儀耐電弧測(cè)試儀高壓/漏電起痕試驗(yàn)儀低壓/漏電起痕試驗(yàn)儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測(cè)試儀高溫直流測(cè)試系統(tǒng)

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HCDH-3一體式耐電弧試驗(yàn)儀

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型號(hào)：HCDH-3

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一體式耐電弧試驗(yàn)儀是專門為電氣絕緣材料測(cè)試而開發(fā)的高精密設(shè)備，適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測(cè)試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)研究等用途。根據(jù)GB 1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗(yàn)方法》IEC 61621及ASTM D495設(shè)計(jì)、制造的，并符合JEC 149、UL 746
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Huace-300液體表面體積電阻率測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-12-12

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液體表面體積電阻率測(cè)試儀，市場(chǎng)上測(cè)量電阻的設(shè)備大多采用伏安法，在伏安法中重要的環(huán)節(jié)莫過于一個(gè)精準(zhǔn)的電流表，電壓源。系列表面體積電阻率測(cè)試儀采用了高的精度電流采集芯片、高穩(wěn)定度的電壓源，和優(yōu)質(zhì)的屏蔽線路。使得屏蔽效果較之前的同類測(cè)試設(shè)備大大提高。同時(shí)采用數(shù)字化的處理方式，用熒光屏取代以往的數(shù)碼管，可同時(shí)直接顯示電阻值、電流值、電阻率值。而且設(shè)備也可用于測(cè)試微電流。
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耐電弧試驗(yàn)儀HCDH-4

更新時(shí)間：2025-01-02

型號(hào)：

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耐電弧試驗(yàn)儀HCDH-4是專門為電氣絕緣材料測(cè)試而開發(fā)的高精密設(shè)備，適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測(cè)試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)研究等用途。根據(jù)GB 1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗(yàn)方法》IEC 61621及ASTM D495設(shè)計(jì)、制造的
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Huace-300塑料表面、體積電阻率測(cè)試儀

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型號(hào)：Huace-300

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HCLD-III優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品供應(yīng)耐電痕化漏電起痕測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2025-06-06

型號(hào)：HCLD-III

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優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品供應(yīng)耐電痕化漏電起痕測(cè)試儀器HCLD-III適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進(jìn)行耐電痕化和蝕損的試驗(yàn)，模擬在工頻（48Hz - 62Hz）下，用液體污染物和斜面試樣，通過耐電痕化和蝕損的測(cè)量評(píng)定在環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料的耐電痕化和蝕損等級(jí)。本機(jī)是嚴(yán)格按照GB/T6553-2003 及 IEC60587-1984設(shè)計(jì)制造。
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HCLD-III漏電起痕試驗(yàn)儀優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品供應(yīng)測(cè)試儀器

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HCLD-III耐電痕化漏電起痕試驗(yàn)儀產(chǎn)品供應(yīng)測(cè)試儀器

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